電子器件在生產(chǎn)過程中，總有一步是關(guān)鍵的，使用高低溫箱測試產(chǎn)品質(zhì)量就成為了那關(guān)鍵的一步，那么，為什么電子產(chǎn)品要進(jìn)行試驗(yàn)？我想有很多人有這個(gè)疑問。

　　隨著技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品逐漸發(fā)展集成化和結(jié)構(gòu)精細(xì)化，工序更多，制造工藝也越來越復(fù)雜，制造過程也存在著潛在的缺陷。在生產(chǎn)和制造過程中，由于設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施等原因而導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問題可歸納為兩類：

 

　　一、所生產(chǎn)產(chǎn)品不符合使用要求，性能參數(shù)不符合標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　二、普通檢測手段無法檢測到的潛在缺陷，在使用過程中需要逐漸暴露，如組織不穩(wěn)定、硅片表面污染、焊接空洞、芯片與管殼熱阻匹配不良等。

 

　　一般情況下，這種缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時(shí)左右，才能完全啟動(dòng)。顯然，要測試每一個(gè)部件一千小時(shí)是不切實(shí)際的，因此要對(duì)它施加熱應(yīng)力和偏壓，比如：高低溫箱進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，以加速該缺陷的早期暴露。

 

　　即對(duì)電子產(chǎn)品施以眾多綜合外力，高低溫箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，使?jié)摲怨收媳M早出現(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆的初期階段，高可靠的穩(wěn)定期。

 

　　經(jīng)過高低溫箱的試驗(yàn)，能使產(chǎn)品在正常使用過程中提前暴露安全隱患，測量電氣參數(shù)，篩選故障或變化的部件，盡可能把產(chǎn)品早期在正常使用過程中的隱患消除，從面保證產(chǎn)品出廠時(shí)能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。

 

　　相信介紹到這里，大家對(duì)電子產(chǎn)品為何要使用高低溫箱進(jìn)行測試已有比較清晰的認(rèn)識(shí)。需要購買高低溫箱的客戶歡迎聯(lián)系我司。